具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭，它是用應(yīng)變片機(jī)構(gòu)，比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高

TP200系統(tǒng)組件包括：

TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）

TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定越程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）

PI200-3測(cè)頭接口

SCR200測(cè)針交換架

還有一種EO模塊（擴(kuò)展越程），越程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。
特性與優(yōu)點(diǎn)

?應(yīng)變片技術(shù)具備優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和精確的3D空間形狀測(cè)量精度
?零復(fù)位誤差
?無(wú)各項(xiàng)同性影響
?六向測(cè)量能力
?測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）
?測(cè)頭模塊快速交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
?壽命>1000萬(wàn)次觸發(fā)
TP200/TP200B測(cè)頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和精確的3D空間形狀測(cè)量精度，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且解決了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。

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